| 品牌 | 其他品牌 | 货号 | 123 |
|---|---|---|---|
| 规格 | CSG-40-80-2UH-SP | 供货周期 | 一个月以上 |
| 主要用途 | 机械设备 | 应用领域 | 电子 |
| 名称 | 哈默纳科 | 用途 | 半导体、机器人、机械设备 |
| 材质 | 钢 | 是否进口 | 是 |
接触形式与测头的选择
在接触测量中，体现被测参数的表面与量仪之间的接触形式分为三种:点接触形式，如球形测头与平面工件接触;线接触形式哈默纳科平面测头谐波CSG-40-80-2UH-SP，如平面测头与圆柱形工件表面接触;面接触形式，如平面测头与平面工件接触。
接触形式对测量结果有影响。正确选择接触形式的原则是优先考虑采用点接触;在条件不允许或实现较为困难时，哈默纳科平面测头谐波CSG-40-80-2UH-SP考虑采用线接触;不得已时才采用面接触。
对线纹尺的检定方法有相对测量法和测量法。在相对测量法检定线纹尺中，将被检定线纹尺与比其精度等级高一等的标准线纹尺在线纹尺比较仪上作相对测量，读出二者刻线间距的长度差，从而确定被检线纹尺刻线间距的误差。在测量法检定线纹尺中，将被检线纹尺在激光干涉比长仪上进行测量。其实质是将被检线纹尺的刻线间距转变成为三面直角棱镜的位移，从而使干涉系统中两相干光束的光程差发生相应的变化，通过光电接收器对干涉条纹明暗交替次数的检测，即可求出被检线纹尺相应刻线间距的误差在线纹量值传递系统中，
