品牌 | 其他品牌 | 货号 | 123 |
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规格 | CSG-14-50-GH-J6 | 供货周期 | 一个月以上 |
主要用途 | 机械设备 | 应用领域 | 电子 |
名称 | 哈默纳科 | 用途 | 半导体、机器人、机械设备 |
材质 | 钢 | 是否进口 | 是 |
3)考虑选用标准化、系列化、通用化的计量器具,以便于安装、使用、维修和更换。
4)所选测量器具应适应被测工件的结构、哈默纳科基面测量谐波CSG-14-50-GH-J6材料的特殊性。如被测件的大小、形状、重量、材料、表面粗糙度等。
4.测量基准面的选择
测量基准的选择应遵守基准统一原则,哈默纳科基面测量谐波CSG-14-50-GH-J6并由测量的目的而定。测量基准的选择有以下几种情况:
C1)在工序检测时,应以工艺基面为测量基准面。通常以工件装卡在机床夹具上的定位基面为测量基准。以正确评定和分析加工质量。
C2)在产品终结检测时,应以装配基面为测量基准,以保证与设计和使用要求一致。
C3>当由于各种原因,使工艺基面与设计基面不一致,或工艺基面受到破坏,或由于量仪测量条件的限制等,无法满足上述两条要求时,可选择某一辅助基面为测量基面。选择辅助测量基面的一般原则为:
1)以精度较高的面作为辅助基面,也可事先加工一个面作为辅助测量基面。
2)辅助测量基面应保证测量的稳定性。
3)在被测参数较多的情况下,选择与各参数关系密切、便于控制各参数的某一面作为测量的辅助基面。